超聲波探頭的類型很多，性能各異，因此根據超聲波探傷對象的形狀、對超聲波的衰減和技術要求，合理選用探頭是保證探傷結果正確可靠的基礎。對超聲波探頭的選擇主要體現在：探頭型式、探頭頻率、探頭晶片尺寸和探頭角度等。
3.1 探頭型式
一般根據工件的形狀和可能出現缺陷的部位、方向等條件來選擇探頭的形式，盡量使超聲波聲束軸線與缺陷垂直。具體可參考上述常見典型探頭作用部分。
3.2 探頭頻率
超聲波探傷頻率在0．5一15MHz之間，選擇范圍較大。一般選擇頻率時應考慮以下幾個因素。
1)由于超聲波的繞射，使超聲波探傷靈敏度約為二分之一波長。在同一材料內超聲波波速是一定的，因此提高頻率，超聲波波長變短，探傷靈敏度提高，有利于發現更小的缺陷。
2)頻率高，脈沖寬度小，分辨率高，有利于區分相鄰缺陷，分辨力提高。
3)由擴散公式可知，頻率高，超聲波長短，則半擴散角小，聲束指向性好，超聲波能量集中，有利于發現缺陷并對缺陷定位，定量精度高。
4)由近場區長度公式可知，頻率高，超聲波長短，近場區長度大，對探傷不利。
5)由衰減、吸收公式可知，超聲波的衰減隨超聲波頻率、介質晶粒度增加而急劇增加。
通過上面分析可知超聲波探傷時頻率的影響較大，頻率高，探傷靈敏度和分辨率高，波束指向性好，對探傷有利。但是頻率高，近場區長，介質衰減大，對探傷不利，所以在選擇探頭頻率時，應綜合考慮，全面分析各方面因素，合理選取。
一般說來，在滿足探傷靈敏度要求的前提下，盡可能選取頻率較低的探頭；對于晶粒較細的鍛件、軋制件和焊接件等，一般選用較高頻率的探頭，常用2.5—5.0MHz。對于晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等工件，宜選用軟低頻率的探頭，常用0.5～2.5MHz，否則若選用頻率過高，就會引起超聲波能量嚴重衰減。
3.3 探頭晶片尺寸
探頭晶片的形狀一般為圓形和方形。探頭的晶片尺寸對超聲波探傷結果有一定影響，選擇時主要考慮以下因素：
1)半擴散角。由擴散角公式可知，晶片尺寸增加，半擴散角減小，波束指向性好，超聲波能量集中，對探傷有利。
2)探傷近場區。由近場區長度公式可知，晶片尺寸增加，近場區長度增大，對探傷不利。
3)晶片尺寸大，輻射的超聲波能量強，探頭未擴散區掃查范圍大，發現遠距離缺陷能力增強。
在探傷面積范圍大的工件時，為提高探傷效率，宜選用大晶片探頭；探傷厚度大的工件時，為了有效地發現遠距離的缺陷宜選用大晶片探頭；對小型工件，為了提高缺陷的定位定量精度，宜選用小晶片探頭；對表面不太平整、曲率較大的工工件，為了減少耦合損失，宜選用小晶片探頭。
3.4角度
在檢測中應盡量使超聲波聲束軸線與缺陷垂直，因此角度的選擇根據檢測對象中可能存在的缺陷類型、位置和工件允許的探傷條件，利用反射、折射定律以及相關幾何知識，選擇合適角度的探頭。
以在橫波檢測中，探頭的K值為例，折射角對檢測靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程（入射點至底面反射點的距離）有較大影響。對于用有機玻璃斜探頭檢測鋼制工件，β=40°（K=0.84）左右時，聲壓往復透射率最高，即檢測靈敏度最高。
由此可知，K值大，β值大，一次波的聲程大。因此在實際檢測中，當工件厚度較小時，應選用較大的K值，以便增加一次波的聲程，避免近場區檢測。當工件厚度較大時，應選用較小的K值，以減少聲程過大引起的衰減，便于發現深度較大處的缺陷。
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